T-STX-4-1-200-8-F-A-AL-X

Pomiary STX T.STX.4.1.200.8.F.A.AL.X

Pomiary  STX T.STX.4.1.200.8.F.A.AL.X

Opis:   Pomiary głośników wysokotonowych (podglądowe / porównawcze ) w tym także wstęgowych wykonywane będą zawsze w tych samych identycznych warunkach.

Warunki pomiaru:   Pomiary wykonano w warunkach „chronionych”. Charakterystyki mierzone są wolne od wszelkiego rodzaju wpływu dyfrakcji itp. Czyli to co widzimy na wykresach to wyłącznie możliwości głośnika bez wpływu aplikacji / obudowy.

Uwagi:   Teoretycznie to co widzimy na pomiarach w warunkach umownie zwanych „chronionych” to maksimum co głośnik potrafi bez filtracji i takie pomiary się najlepiej nadają do porównań z innymi głośnikami. Pod warunkiem ze pomiary są powtarzalne !. Charakterystyki w każdej innej obudowie będą od Siebie odbiegały. Przeważnie są to podbicia w określonym pasmie i zwiększenie aktywności zniekształceń i opóźnień wybrzmień dla danego pasma. Skuteczna walka z skutkami dyfrakcji to już zadanie „konstruktora”.

Słowa uznania dla STX 🙂 – Wyśmienite wyniki pomiarów ( 69PLN ).
? Brzmienie ? – czas zweryfikuje możliwości brzmieniowe w różnych aplikacjach …

 

  • Pomiar Frequency Response – On-axis , Bez wygładzania, Bramka 0-12ms, SineSweepSTX GDWK10ALX BW B12 BF
  • Pomiar Harmonic Distortion –

    2345, 2-5

    STX GDWK10ALX W48 B12 BF

  • Pomiar Cumulative Spectral DecaySTX GDWK10ALX W24 B24 BF
  • Pomiar Toneburst Energy StorageSTX GDWK10ALX W48 B24 BF
  • Pomiar Impuls ResponseSTX GDWK10ALX BF
  • Uwagi i pytania proszę kierować na zap-acoustics@zap-acoustics.pl